概述簡介:
普天同創(深圳)科技有限公司 為掃描電鏡客戶定制放大倍率標準樣品。標樣基質材料為單晶硅或石英玻璃基片,材料性質穩定。由德國聯邦物理研究所(PTB)對線距均勻性進行測量認證。測量結果可直接溯源至米定義計量基準。
規格尺寸:
5mm×5mm×0.5mm(長×寬×厚)
產品描述:
○. 主體圖形為一“回”字形方框,分為4個象限,X、Y軸上為垂直坐標軸方向的線距20μm的短平行線條,
○. 4個象限上分別是線距為40μm、20μm、10μm的方格網狀圖形和線距為5μm的X、Y雙向平行線條圖形。
○. 內框中部又是“回”字形方框,大框和小框之間在X方向和Y方向上都有線距為5μm的平行線條,小框里面是線距為1μm或0.5μm的X、Y雙向平行線條圖形(如圖)。在5μm和1μm或0.5μm的線距結構上還有一些十字形和圓點,可用于在較大放大倍率下圖像的聚集和像散調整。不同的線距大小可用于從10×~100,000×放大倍率范圍的校準,而把40μm、20μm和10μm的線距結構設計成方格形,是為了在對放大倍率進行準確校準的同時,可以對圖像的畸變、像散等進行校驗, 5μm和1μm/0.5μm的線距結構也同時具有X、Y兩個方向的平行線條,是為了方便同時對X、Y兩個方向進行放大倍率的校準而不必機械旋轉標準器。
主要用途:
○. 可用于同時對任意兩個垂直方向上的掃描電鏡的圖像的放大倍率進行檢查或校正,是校準從10×~100,000×范圍的圖像放大倍率的最有效的圖形標準樣品○. 利用標樣上的“點子”圖像,可對電子束作漂移檢驗和樣品臺復位檢驗
使用方法:
○. 盡量使用較低的工作電壓,如5KeV或更低○. 可以直接參照標樣說明書的那八張相近圖像進行測量
注意事項:
使用前應認真檢查標準樣品表面有無污染物和損壞,因為這會影響校準。請勿使用已破損或有污染物的標準樣品!可用清潔干燥的空氣或氮氣清除標準樣品上的灰塵、碎片或其他污染物,注意不要損壞標準樣品。有條件的實驗室應不定期地通過與其他標準樣品的對比來檢查標準樣品的特性和用法來確定其檢查頻率。